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         阻抗分析儀IM3570

        阻抗分析儀IM3570

        廠商名稱:日置/HIOKI

        產品型號:IM3570

        市場價格:¥0.0 (僅供參考)

        促銷價格:¥

        描述:

        阻抗分析儀IM3570適用於壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量,電感器(線圈、變壓器)的DCR和L-Q的測量,分析儀模式下可進行掃頻測量、電平掃描測量、時間間隔測量
        獲取報價 貨期:現貨
        • 詳細說明
        • 產品手冊

        阻抗分析儀IM3570產品介紹:
        1台儀器實現不同測量條件下的高速檢查
        1台儀器實現LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續測量和高速檢查
        LCR模式下最快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速測量
        基本精度±0.08%的高精度測量
        適用於壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量,電感器(線圈、變壓器)的DCR和L-Q的測量
        分析儀模式下可進行掃頻測量、電平掃描測量、時間間隔測量
        可以用於無線充電評價係統TS2400
        主機不標配治具。請根據您的需求選擇選件中的治具和探頭。

        阻抗分析儀IM3570產品規格:


        測量模式LCR(LCR測量),分析儀(掃描測量),連續測量
        測量參數Z、Y、θ、Rs(ESR)、Rp、Rdc(直流電阻)、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D(tanδ)、Q
        測量量程100mΩ~100MΩ,12檔量程(所有參數由Z確定)
        顯示範圍Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp:±(0.000000[單位]~9.999999G[單位],僅Z和Y顯示絕對值
        θ:±(0.000°~999.999°),D:±(0.000000~9.999999)
        Q:±(0.00~99999.99),△%:±(0.0000%~999.9999%)
        基本精度Z:±0.08%rdg. θ:±0.05°
        測量頻率4Hz~5MHz(10mHz~100Hz步進)
        測量信號電平V模式,CV模式(普通模式)
        50mV~1Vrms,1mVrms步進(1MHz以下)
        10mV~1Vrms,1mVrms步進(1.0001MHz以上)
        CC模式(普通模式)
        10μA~50mA rms,10μA rms步進(1MHz以下)
        10μA~10mA rms,10μA rms步進(1.0001MHz以上)
        輸出阻抗普通模式:100Ω,低阻抗高精度模式:10Ω
        顯示彩色TFT5.7英寸,可設置顯示ON/OFF
        測量時間0.5ms(100kHz,FAST,顯示OFF,代表值)
        測量速度FAST/MED/SLOW/SLOW2
        其他功能DC偏壓測量,比較功能,麵板讀取和保存,存儲功能
        接口EXT I/O,RS-232C,GP-IB,USB通訊,U盤,LAN
        電源AC90~264V,50/60Hz,最大150VA
        打印拷貝測量值或屏幕顯示的要點(需用9442,9593-01和9446)
        接口GP-IB,RS-232C,EXT.I/O(所有標準)
        電源AC90~264V,50/60Hz,最大150VA
        體積和重量330W×119H×307Dmm,5.8kg
        附件電源線×1,使用說明書×1,通訊手冊×1


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