WK4100係列 LCR表

WK4100係列 LCR表產品參數：

1J4110    頻率範圍20Hz~100kHz
1J4120    頻率範圍20Hz~200kHz
1J4150    頻率範圍20Hz~500kHz
1J41100  頻率範圍20Hz~1MHz

• 測試頻率：20Hz—1MHz

• 基本精度：0.1%

• 最快測試速度：〈20ms

• 提供B1、B2、S1和S2測包訊號，可連接各家封裝測試機

• 測試參數：阻抗(Z),  相位角(θ)、交流電阻（Rac）、電容(C),  損耗因數(D),電感(L), 品質因數(Q),電納(B),  電導(G), 電抗(X), 導納(Y)和直流電阻（Rdc）

 • 交流信號源：10mV—2Vrms

• 通信接口：GPIB、RS232、LAN和USB

• 直流疊加：內置+2V，外加0—±40V

• 具有帶電電容器放電保護電路

• 體積小、重量輕、性價比更高的元器件測試儀器

WK4100係列 LCR表適用範圍：

0.1% 基本精確度,266PCS/分產量~540PCS/分

雙頻測試,四項參數顯示

4110頻率範圍20Hz~100kHz

4120頻率範圍20Hz~200kHz

4150頻率範圍20Hz~500kHz

41100頻率範圍20Hz~1MHz

GPIB USB,LAN,RS232界麵與操作軟件

測試參數:Z, Rac, C, D, L, Q, B, G, X, Y, Rdc