X射線衍射儀(XRD)

設備簡介：

Bruker D8 Advance能夠精確地對金屬和非金屬多晶樣品進行物相定性、定量分析。儀器應包括長壽命X射線光管、高精度測角儀、能量色散探測器以及相關外圍設備。配有三種樣品台：標準樣品台，尤拉環樣品台，變溫樣品台(高、中、低溫)。

主要參數：

1、X射線線焦斑大小：0.04×12 mm，點焦斑大小0.4×1.2 mm，可完成點焦斑與線焦斑自動切換;

2、測角儀：測角儀半徑> 280 mm，2?轉動範圍：-110~168°，可讀最小步長 0.0001度，角度重現性 0.0001度;

3、二維功能探測器，活性麵積：14mm × 16mm;

4、低溫原位分析腔體：工作溫度範圍： -160~450℃，控溫精度：+/-0.1℃;

5、環境加熱原位分析腔體： 工作溫度範圍：室溫~1100℃，控溫精度：+/-0.1℃;

6、直接加熱原位分析腔體：工作溫度範圍：室溫~1600℃，控溫精度：+/-0.1℃。

測試項目：

XRD能夠精確對金屬、非金屬多晶粉末以及薄膜等樣品進行物相檢索分析、物相定量分析、晶胞參數計算和固溶體分析、晶粒度及結晶度分析等。

樣品要求：

本儀器適合金屬、非金屬粉末、片狀和塊體樣品，粉末粒徑約40μm(過篩300-320目)、質量大於1g為宜。塊體材料的直徑小於2cm、厚度小於1cm。

測試時間：

常規測試周期在1~2周，其他測試2~4周

測試結果類型：

raw、brml和txt三種格式，其中brml格式隻適用於布魯克指定的軟件